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一种基于贝叶斯优化理论的多目标寻优软错误加固方法

摘要

本发明属于半导体和集成电路技术领域,具体为一种基于贝叶斯优化理论的多目标寻优软错误加固方法。该加固方法包括3个过程:信息获取过程获取电路中触发器的面积、功耗和软错误率等基本信息;数据降维过程依据获取的信息对电路中的触发器进行聚类、排序并实数编码。优化加固过程基于贝叶斯优化理论,通过代理模型模拟电路替换加固的效果表现,利用采集函数选择下一个采样评估点,并进行多目标寻优求解,经迭代,获得面积、功耗和软错误率的最佳折衷,给出最终替换加固方案;本发明方法具有可扩展性,高效性、通用性,可用于指导三模冗余TMR等多种高可靠结构的容软错误替换加固,能适应多场景多要求的电路加固设计。

著录项

  • 公开/公告号CN115204051A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 复旦大学;

    申请/专利号CN202210872562.X

  • 发明设计人 李炎;陈超;曾晓洋;

    申请日2022-07-23

  • 分类号G06F30/27;G06K9/62;G06F111/06;G06F119/02;

  • 代理机构上海正旦专利代理有限公司;

  • 代理人王洁平

  • 地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号

  • 入库时间 2023-06-19 17:14:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-18

    公开

    发明专利申请公布

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