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一种光电跟踪设备跟踪精度测试装置及方法

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摘要

本发明公开了一种光电跟踪设备跟踪精度测试装置及方法，属于光电跟踪设备测试技术领域。包括数字微镜、照明光学系统、投影光学系统和主控单元；照明光学系统用于将光束照射到数字微镜表面，数字微镜用于生成模拟目标、将入射光束以固定的角度反射；投影光学系统用于将经数字微镜调制的光束投影至被测光电跟踪设备；主控单元用于控制数字微镜工作、获取被测光电跟踪设备的跟踪信息和数字微镜生成的靶标的变化角度并比较以得出跟踪精度测试结果；能够提升光电跟踪设备跟踪精度测试的准确性，降低测试成本，减少局限性；解决现有技术中光电跟踪设备跟踪精度测试系统成本高、结构复杂、具有场地局限性的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN115265417A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中电科思仪科技股份有限公司;

    申请/专利号CN202211034305.5

  • 发明设计人 刘志明;葛崇琳;郎金鹏;董杰;闫宝东;

    申请日2022-08-26

  • 分类号G01B11/26;

  • 代理机构济南圣达知识产权代理有限公司;

  • 代理人李圣梅

  • 地址 266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号

  • 入库时间 2023-06-19 17:22:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-01

    公开

    发明专利申请公布

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