首页> 中国专利> 扣除其它核反应对目标核反应截面测量影响的方法及系统

扣除其它核反应对目标核反应截面测量影响的方法及系统

摘要

本发明属于核数据测量技术领域,具体涉及一种扣除其它核反应对目标核反应截面测量影响的方法及系统,该方法首先制备样品并对样品进行中子辐照;然后判断样品辐照后是否仅有一种与目标核反应子核相同的反应对目标核反应截面测量影响不可忽略;最后在仅有一种与目标核反应子核相同的反应对目标核反应截面测量影响不可忽略情况下,用产生同种子核的不可忽略的核反应截面的实验值或评价值,扣除其对目标核反应截面测量的影响。本发明的方法原理清楚、涉及公式简单、计算快捷,从而提高在采用含有两种及两种以上同位素的天然样品测量核反应截面时所获得核反应截面数据的精确度。

著录项

  • 公开/公告号CN115291271A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 平顶山学院;

    申请/专利号CN202210081987.9

  • 申请日2022-01-24

  • 分类号G01T1/34;

  • 代理机构郑州大通专利商标代理有限公司;

  • 代理人石丹丹

  • 地址 467000 河南省平顶山市新城区未来路南段

  • 入库时间 2023-06-19 17:27:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-04

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号