首页> 中国专利> 一种计算相互依存电路网络容错性能的方法

一种计算相互依存电路网络容错性能的方法

摘要

该发明公开了一种计算相互依存电路网络容错性能的方法,相互依存电路网络的容错性、鲁棒性及可靠性领域。大多数依存网络在现实世界中并不脆弱。因此,为了找到更精确的模型来说明实际级联故障的机制,深入确定容错分配与相互依存网络鲁棒性之间的关系,从而解决计算相互依存电路网络容错性能的问题。通过本发明计算的联合电路容错性能,实时改变电路结构或电路中节点能力,最大化联合电路的容错能力,增加联合电路的鲁棒性和稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN115292859A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202210827978.X

  • 申请日2022-07-13

  • 分类号G06F30/18;G06F30/20;G06N7/00;G06F113/04;

  • 代理机构电子科技大学专利中心;

  • 代理人陈一鑫

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 17:27:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-04

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号