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可校准跟踪测量参数的相对位移测量跟踪方法与装置

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可校准跟踪测量参数的相对位移测量跟踪方法与装置属于激光跟踪测量领域，本发明在不使用绝对距离测量技术条件下，结合电机的微动、PSD光斑位置测量以及平面镜对光束的反射平移等手段和操作，解算建立的光学方程式从而校准出基准距离、光斑位置测量误差和距离余弦误差这三个跟踪测量参数，特别是该发明具有在正常激光跟踪操作中激光光束被打断时能够在线校准出新的基准距离值的功能，该发明为降低激光跟踪系统复杂性和成本，提高跟踪测量精度做出必要的技术铺垫。

著录项

公开/公告号CN115307550A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-11-08

原文格式PDF
申请/专利权人中国计量科学研究院;
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申请/专利号CN202210950193.1
发明设计人刁晓飞;毛帅;
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申请日2022-08-09
分类号G01B11/02;G01B9/02015;G01B9/02055;
代理机构常州众慧之星知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人郭云梅
地址 100000 北京市朝阳区北三环东路18号
入库时间 2023-06-19 17:30:31

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2022-11-08

公开

发明专利申请公布

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