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半导体量子芯片测控方法、系统、测控系统及量子计算机

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本申请涉及一种半导体量子芯片测控方法、系统、测控系统及量子计算机，应用于量子计算机技术领域，其包括在接收到请求指令时，根据预设的界面数据对页面进行渲染，生成实验界面；响应实验选择指令，显示与所述实验选择指令对应的实验界面；响应实验执行指令，读取与所述实验选择指令对应的实验界面，获取实验参数，并运行实验；接收并显示与所述实验参数对应的实验结果。本申请通过与多种仪器建立链接，生成实验界面，从而便于用户对实验参数进行设置，进而便于根据实验参数控制仪器运行实验，大大提高了用户进行实验的便捷性。

著录项

公开/公告号CN115511097A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-12-23

原文格式PDF
申请/专利权人合肥本源量子计算科技有限责任公司;
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申请/专利号CN202211461306.8
发明设计人张辉;石汉卿;侯需要;祝朗;孔伟成;
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申请日2022-11-18
分类号G06N10/70;G06N10/40;
代理机构
代理人
地址 230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
入库时间 2023-06-19 18:04:57

法律信息

法律状态公告日

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法律状态
2022-12-23

公开

发明专利申请公布

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