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定位装置及光学系统测试设备

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本发明公开了一种定位装置及光学系统测试设备，其属于光学测试技术领域，定位装置包括承载平台、固定块、滑动块和锁紧组件，承载平台具有参考平面，参考平面上设置有若干条刻度线；固定块与承载平台固定连接，固定块具有第一定位面，第一定位面与一条刻度线对齐；滑动块与承载平台滑动连接，滑动块具有第二定位面，第二定位面能够与另一条刻度线对齐，待定位件能够夹设于第一定位面与第二定位面之间；锁紧组件与滑动块连接，锁紧组件能够被按压和释放以选择性锁紧滑动块与承载平台。光学系统测试设备包括如上所述的定位装置。在定位过程中，只需移动和锁紧滑动块，减少定位时间，且有刻度线做参考，提高定位精度的同时能够保护待定位件。

著录项

公开/公告号CN115592627A

专利类型发明专利
公开/公告日2023-01-13

原文格式PDF
申请/专利权人厦门天马显示科技有限公司;
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申请/专利号CN202211380795.4
发明设计人童迪;杨璐;
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申请日2022-11-04
分类号B25H1/02;B25H1/10;
代理机构北京品源专利代理有限公司;
代理人杨雪
地址 361101 福建省厦门市厦门火炬高新区(翔安)产业区翔安西路6999号
入库时间 2023-06-19 18:19:26

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法律状态
2023-01-13

公开

发明专利申请公布

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