AOI调试设备及AOI组合设备

技术领域

本申请涉及光学自动检测设备技术领域，尤其涉及一种AOI调试设备及 AOI组合设备。

背景技术

AOI(Auto Optical Inspection，自动光学辨识系统)检测设备又名AOI光学自动检测设备。AOI检测设备通过高清CCD摄像头扫描极片(Lead frame) 上芯片(Chip)的固晶(Die bonding)或者焊金线(Wire bonding)，采集图像，测试的检测点与数据库中合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出目标产品上的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员或者操作人员改善工艺。

检测设备在检测使用之前，都需要进行调试，以确保检测结果准确。目前还没有专用于AOI检测设备调试的设备。现有的调试方式通常为：使用下游芯片产品，输送至AOI检测设备，进行检测和调试。现有的这种调试方式为线上调试，且仅能对对应该生产线极片上芯片产品的AOI检测设备型号进行调试，难以对多个不同型号的AOI检测设备调试。

实用新型内容

本申请实施例提供一种AOI调试设备及AOI组合设备，以解决或缓解现有技术中的一项或更多项技术问题。

作为本申请实施例的第一方面，本申请实施例提供一种AOI调试设备，包括：

机体；

滑动轮组，滑动轮组安装在机体上，滑动轮组包括至少一个主动轮和至少一个从动轮；滑动轮组用于带动套设在滑动轮组上的极片运动；

其中，极片套设在滑动轮组上，极片随着至少一个主动轮转动，同时带动至少一个从动轮转动。

在一种实施方式中，滑动轮组在机体上呈三角形或者多边形设置。

在一种实施方式中，滑动轮组包括上层滑动轮组，上层滑动轮组包括至少两个滑动轮。

在一种实施方式中，机体包括用于安装上层滑动轮组的横架，至少两个滑动轮均安装于横架上；横架在机体上为高度可调节安装。

在一种实施方式中，上层滑动轮组包括至少一个主动轮。

在一种实施方式中，滑动轮组包括下层滑动轮组，下层滑动轮组包括一个或者多个滑动轮；

下层滑动轮组在机体上高度可调节设置。

在一种实施方式中，机体包括用于安装下层滑动轮组的一个或者多个竖杆，一个竖杆安装一个滑动轮；

机体还包括滑动块，滑动轮可拆卸式安装于滑动块上，滑动块带动滑动轮在竖杆上上下滑动。

在一种实施方式中，滑动轮组与机体可拆卸式安装。

在一种实施方式中，机体包括至少一个快速固定连接块，至少一个快速固定连接块设置于机体的前侧面的边缘处。

作为本申请实施例的第二方面，本申请实施例提供一种AOI组合设备，包括AOI检测设备和上述实施方式中任一方面的AOI调试设备。

本申请实施例采用上述技术方案可以通过滑动轮组带动极片运动，模拟芯片产品生产线中极片的运动，使得AOI检测设备可以检测到极片上的芯片产品，实现对AOI检测设备的调试。通过更换滑动轮组和极片，可以实现对不同型号的AOI检测设备的调试，无需线上调试。

上述概述仅仅是为了说明书的目的，并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外，通过参考附图和以下的详细描述，本申请进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。

附图说明

在附图中，除非另外规定，否则贯穿多个附图相同的附图标记表示相同或相似的部件或元素。这些附图不一定是按照比例绘制的。应该理解，这些附图仅描绘了根据本申请公开的一些实施方式，而不应将其视为是对本申请范围的限制。

图1示出根据本申请一实施例的AOI调试设备的结构示意图。

图2示出根据本申请一实施例的AOI调试设备的另一结构示意图。

图3示出根据本申请一实施例的上滑动轮组的安装结构示意图。

具体实施方式

在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本申请的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。

图1和图2示出根据本申请实施例的AOI调试设备100的结构示意图。如图1和图2所示，该AOI调试设备100包括：机体110、滑动轮组120。

滑动轮组120安装在机体110上，120滑动轮组120包括至少一个主动轮和至少一个从动轮滑动轮组120带动套设在滑动轮组120上的极片运动。

其中，极片套设在滑动轮组120上，极片随着至少一个主动轮转动，同时带动至少一个从动轮转动。

本申请实施例中，极片包括一连串的芯片产品，芯片产品在极片上的排布可以与芯片产品生产线上的极片相同。芯片产品在极片上的排布能够方便AOI 检测设备检测即可。

本申请实施例中，极片为头部和尾部封闭焊接的环带，以套设于滑动轮组 120上，使得滑动轮组120带动极片运动，模拟芯片产品生产线上的极片的运动。滑动轮组120带动极片运动，从而AOI检测设备可以检测到极片上的芯片产品。

本申请实施例通过滑动轮组120带动极片运动，模拟芯片产品生产线中极片的运动，使得AOI检测设备可以检测到极片上的芯片产品，实现对AOI检测设备的调试。

本申请实施例的AOI调试设备100，通过更换滑动轮组120和极片，可以实现对不同型号的AOI检测设备的调试，无需线上调试，可以方便AOI检测设备的出厂调试。

在一个示例中，AOI调试设备100包括覆盖在机体上的柜门，可以通过分别打开机体的左侧、右侧、上侧或者下侧的柜门，实现AOI检测设备检测到 AOI调试设备100的极片上的芯片产品。柜门可以根据具体的实际情况设置打开的位置以及打开的方式。

本申请实施例中，滑动轮组120包括至少一个主动轮，可以采用本领域普通技术人员现在和未来知悉的各种方式，实现主动轮的主动滑动。

本申请实施例中，极片套设在滑动轮组120上，主动轮的主动滑动带动极片运动，极片带动其他从动轮滑动。

主动轮的滑动速度决定极片的运动速度，主动轮的滑动速度根据极片需要的运动速度决定。极片的运动速度与生产线上极片的运动速度相适应，使得调试好的AOI检测设备能够检测响应运动速度的芯片生产线。

在一个优选的示例中，滑动轮组120包括一个主动轮，其余均为从动轮。一个主动轮可以带动整个滑动轮组120的滑动，同时可以方便地通过调整一个主动轮的滑动速度，调整滑动轮组120上极片的运动速度。

本申请实施例中，套设在滑动轮组120上的极片，可以是经过校准后的极片，或者是包含预设的缺陷的极片。

在对AOI检测设备进行调试时，可以更换不同的极片，对同一AOI检测设备进行调试，以使得调试后的AOI检测设备满足更多要求。

例如，可以首先套设校准后的极片进行调试，校准后的极片可以为极片上的每个芯片产品均为无缺陷的完好产品，用于调试AOI检测设备的检测结果是否准确。另外，也可以调试AOI检测设备的图像采集间隔、图像采集位置以及增加数据库的合格参数等等。

然后，可以套设包含预设的缺陷的极片进行调试，用于调试AOI检测设备的检测结果是否准确，包括缺陷标志位置、标志数量以及标志内容等是否准确。

在一种实施方式中，滑动轮组120在机体110上呈三角形或者多边形设置。

滑动轮组120的三角形或者多边形设置，可以使得极片套设在滑动轮组120 上时，极片的每个位置均为伸张状态，极片运动时，极片上的芯片产品均可以被AOI检测设备检测到。

多边形可以为四边形、五边形、六边形以及七边形等，对应的，滑动轮组 120会包括四个滑动轮、五个滑动轮、六个滑动轮以及七个滑动轮。滑动轮组 120中滑动轮的数目增加会增加AOI调试设备100的重量，因此，选择合适的滑动轮组120数目即可。

在一个示例中，机体110上包括多个用于安装滑动轮组120的滑动轮的安装位置，调试人员可以根据需要，在机体110上安装合适数量的滑动轮。

在一个优选的示例中，滑动轮组120的数目为三个，滑动轮组120在机体 110上呈三角形设置。

在一种实施方式中，滑动轮组120包括上层滑动轮组121，上层滑动轮组 121包括至少两个滑动轮。

本申请实施例中，上层滑动轮组121是指在机体110的最上层的滑动轮组 120。可以理解，上层滑动轮组121的至少两个滑动轮的高度相同。

上层滑动轮组121包括至少两个滑动轮，使得极片经过上层滑动轮组121 时为水平运动，方便AOI检测设备对水平运动的芯片产品检测，与生产线上的芯片产品的运动方式相同。

在一种实施方式中，如图3所示，机体110包括用于安装上层滑动轮组121 的横架112，至少两个滑动轮均安装于横架112上；横架112在机体110上为高度可调节安装。

本申请实施例中，横架112是指横着架设于机体110上的固定杆。横架112 通过至少两个直角架113固定于机体110上，直角架113的一边与横架112固定连接或者可拆卸连接，另一边与机体110可拆卸连接或者滑动连接。通过直角架113与机体110的可拆卸连接或者滑动连接，可以调整横架112安装在机体110上的高度，从而调节上层滑动轮组121的高度。

在一个示例中，直角架113的数目为两个，两个直角架113的一边分别与横架112的两端固定连接或者可拆卸连接，另一边与机体110的侧壁可拆卸连接或者滑动连接。

在一个示例中，机体110中包括竖直方向设置的至少两个连杆111，至少两个直角架113在横架112上的固定位置与至少两个两岸的位置相适应。

在一个示例中，连杆111的数量为两个，两个直角架113的一边与横架112 固定连接或者可拆卸连接，另一边与连杆111可拆卸连接或者滑动连接。使得横架112的支撑位在横架112的中央，提高调试设备的稳固性。

在一种实施方式中，上层滑动轮组121包括至少一个主动轮。通过位于上层的主动轮带动整个滑动轮组120运动，可以提高滑动轮组120运动的稳定性。避免位于下层的主动轮带动滑动轮组120运动时，上层滑动轮的受力均为向下的力，难以进行水平方向移动的情况。

在一种实施方式中，滑动轮组120包括下层滑动轮组122，下层滑动轮组 122包括一个或者多个滑动轮；下层滑动轮组122在机体110上高度可调节设置。

本申请实施例中，与上层滑动轮组121相似，下层滑动轮组122是指在机体110的最下层的滑动轮组120。可以理解，下层滑动轮组122的一个或者多个滑动轮的高度相同。优选地，下层滑动轮组122的滑动轮的数目为一个。

下层滑动轮组122的高度可调节设置，可以使得极片套设在滑动轮组120 上时，调节下层滑动轮组122向下，使得极片的张力拉满，确保极片的张力，以使得极片能够带动滑动轮组120的其余从动轮运动。优选地，下层滑动轮组 122的滑动轮的数目为一个，调节一个滑动轮的高度即可满足极片的张力。

本申请实施例中，下层滑动轮组122的高度可调节设置，可以采用本领域普通技术人员现在和未来知悉的各种方式实现。

在一种实施方式中，机体110包括用于安装下层滑动轮组122的一个或者多个竖杆114，一个竖杆114安装一个滑动轮；机体110还包括滑动块(图中未示出)，滑动轮可拆卸式安装于滑动块上，滑动块带动滑动轮在竖杆114上上下滑动。

本申请实施例，通过在滑动块带动滑动轮在竖杆114上上下滑动，实现下层滑动轮组122的高度可调节设置，简化调节步骤，方便调试。

在一种实施方式中，滑动轮组120与机体110可拆卸式安装。使得可以更换不同宽度的滑动轮，用于套设对应宽度的极片，实现不同型号的AOI检测设备的调试。

在一种实施方式中，机体110包括至少一个快速固定连接块130，至少一个快速固定连接块130设置于机体110的前侧面的边缘处。

本申请实施例中，通过至少一个快速固定连接块130与AOI检测设备连接固定，方便AOI检测设备对AOI调试设备100上运动的极片进行检测，从而对 AOI检测设备进行调试。

本申请实施例中，滑动轮组120的滑动轴向为前后方向。快速固定连接块 130可以采用本领域普通技术人员现在和未来知悉的各种方式，实现快速连接。例如图1和图2所示的快速连接方式，即设置卡口，通过卡接的方式将AOI检测设备与AOI调试设别卡接固定。

在一个示例中，机体110的前侧面的左侧边缘、右侧边缘、上侧边缘以及下侧边缘处均设置有至少一个快速固定连接块130，以方便AOI调试设备100 的左右上下侧与AOI检测设备固定。

本申请实施例中的AOI调试设备，可以选用滑动轮组120上任一侧面的极片，用于AOI检测设备检测。例如，AOI调试设备100可以安装于AOI检测设备的上方，以对经过下层滑动轮组122上的极片进行检测；又例如，AOI调试设备100可以安装于AOI检测设备的下方检测口，以使得AOI检测设备对经过上层滑动轮组121的极片进行检测。

本申请实施例还提供一种AOI组合设备，包括AOI检测设备和上述实施方式中任一方面的AOI调试设备100。

本申请实施例中AOI组合设备是指AOI检测设备和AOI调试设备组合在一起的设备。

上述实施例的AOI检测设备以及AOI调试设备的其他构成可以采用于本领域普通技术人员现在和未来知悉的各种技术方案，这里不再详细描述。

在本说明书的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，还可以是通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

上文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，上文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到其各种变化或替换，这些都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。