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用于检测调制传递函数以及使光学系统对中的设备

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本发明涉及一种用于检测具有至少一个透镜(6)或透镜组的光学系统(4)的成像品质的设备(2)。该设备(2)包括用于在光学系统(4)的视野中的多个位置处测量调制传递函数的MTF测量装置(10)，以及用于测量光学系统(4)的对中状态的对中测量装置(18)。另外，本发明还涉及用于凭借这种设备(2)来检测光学系统(4)的成像品质的方法。

著录项

公开/公告号CN108982070B

专利类型发明专利
公开/公告日2022-03-15

原文格式PDF
申请/专利权人全欧光学检测仪器有限公司;
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申请/专利号CN201810554073.3
发明设计人尤金·杜米特雷斯库;帕特里克·兰格哈宁伯格;爱丽丝·埃里克森;亚历山大·巴伊;西蒙·齐利安;艾可·鲁普雷希特;
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申请日2018-06-01
分类号G01M11/02(20060101);
代理机构11611 北京聿华联合知识产权代理有限公司;
代理人刘华联
地址德国威德尔
入库时间 2022-08-23 13:16:33

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