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基于GRE图像和磁纳米粒子的温度测量方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于GRE图像和磁纳米粒子的温度测量方法及系统,属于纳米材料测试技术领域,包括:将磁纳米粒子导入待测对象,得到待测样品,并在已知温度下获取待测样品在多个TE时间下的GRE图像,作为对应TE时间下的参考图像;多个TE时间包含预先确定的目标TE时间;在目标时刻,获取待测样品在多个TE时间下的GRE图像,计算待测样品在各TE时间下的图像相位差ΔΦ和图像幅值变化,并拟合T2*弛豫时间;根据预先标定的相位差与磁纳米粒子浓度和温度的对应关系f(C,T)、T2*弛豫时间与磁纳米粒子浓度和温度的对应关系g(C,T),建立模型:

著录项

  • 公开/公告号CN114199405B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.08.16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN202111423713.5

  • 发明设计人 王帅;彭浩;刘文中;

    申请日2021.11.26

  • 分类号G01K7/36(2006.01);G01N24/08(2006.01);

  • 代理机构华中科技大学专利中心 42201;华中科技大学专利中心 42201;

  • 代理人夏倩;李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-09-26 23:16:11

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