公开/公告号CN114324211B
专利类型发明专利
公开/公告日2022.10.04
原文格式PDF
申请/专利权人 北京光感慧智科技有限公司;
申请/专利号CN202111658905.4
申请日2021.12.30
分类号G01N21/31;G01N21/01;
代理机构北京知呱呱知识产权代理有限公司;
代理人朱芳
地址 101400 北京市怀柔区雁栖经济开发区雁栖大街53号院13号楼二层203-24室
入库时间 2022-11-28 17:49:23
机译: 一种使用激光测量胶片厚度的方法,该激光能力可以通过将激光束反射到具有精细厚度的胶片上来反映通过激光束的干涉信号测量来测量胶片的厚度
机译: 使用曝光系统的装置,具有台架装置的上述曝光系统,具有台架装置的上述曝光系统,具有使用波长补偿器和上述波长的激光干涉测量装置的台架装置以及上述激光干涉测量装置的制造方式为零。
机译: 光谱仪确定低分析物浓度时,具有次级激光,其波长可通过初级激光的激光信号控制,其中介质的吸收线由次级激光的信号测量