首页> 中国专利> 一种高分辨波前检测装置及波前复原方法

一种高分辨波前检测装置及波前复原方法

页面导航

摘要
著录项
法律信息
相似文献

摘要

本发明公开了一种高分辨波前检测装置及复原方法，包括缩束器、分光镜以及数据处理系统；所述分光镜沿所述缩束器出射光方向设置；所述分光镜分出的子光束方向设有波前传感器，且波前传感器的输入端沿子光束出射方向设置；所述波前传感器输出端与所述数据处理系统输入端连接。本发明的有益效果为其结构简单、运算速度快、抗振能力强、对测量光束线宽、相干性和偏振态无特殊要求、无需参考光、可实时记录波前变化过程、同时适用于连续光和脉冲光测量；突破了现有单台哈特曼波前传感器空间分辨率限制，实现了更高的空间分辨率测量，并且在提高空间分辨率的同时，保持动态范围不降低。

著录项

公开/公告号CN111829671B

专利类型发明专利
公开/公告日2023.01.03

原文格式PDF
申请/专利权人中国工程物理研究院应用电子学研究所;
展开▼

申请/专利号CN202010630028.9
发明设计人李光;高学燕;何均章;周山;常艳;解平;黄德权;严伟;田小强;雷德川;蒋志雄;周文超;魏继峰;
展开▼

申请日2020.09.08
分类号G01J9/00;
代理机构成都九鼎天元知识产权代理有限公司;
代理人阳佑虹
地址 621000 四川省绵阳市游仙区919信箱1013分箱
入库时间 2023-01-12 18:57:00

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2023-01-03

授权

发明专利权授予

相似文献

专利
中文文献
外文文献

1. 一种提高波前测量和校正精度的装置及其使用方法 [P] . 中国专利：
2. 一种激光器畸变波前校正方法和装置 [P] . 中国专利：
3. 一种高分辨波前检测装置及波前复原方法 [P] . 中国专利： CN111829671A . 2020-10-27
4. 一种高功率薄片激光器动态波前像差检测装置及方法 [P] . 中国专利： CN111076904B . 2021-08-03
5. METHOD FOR DEPTH RESOLVED WAVEFRONT SENSING, DEPTH RESOLVED WAVEFRONT SENSORS AND METHOD AND APPARATUS FOR OPTICAL IMAGING [P] . 美国专利： US2011134436A1 . 2011-06-09

机译：深度分辨的波前传感方法，深度分辨的波前传感器以及光学成像的方法和装置
6. Measuring device having ideal wavefront generator for detecting point diffraction interferometric wavefront aberration of measured optical system and method for detecting wavefront aberration thereof [P] . 美国专利： US9863841B2 . 2018-01-09

机译：具有理想波前发生器的测量装置，用于检测被测光学系统的点衍射干涉波前像差及其波前像差的检测方法
7. Method for depth resolved wavefront sensing, depth resolved wavefront sensors and method and apparatus for optical imaging [P] . 美国专利： US8451452B2 . 2013-05-28

机译：用于深度分辨波前感测的方法，深度分辨波前传感器以及用于光学成像的方法和设备