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一种模拟电路的RC-Reduction方法

摘要

本发明公开了一种模拟电路的RC‑Reduction方法,包括如下步骤:S01:电路获取模块获取模拟电路;S02:电阻电容计算模块分别计算模拟电路中各个非电阻电容器件的寄生电阻和寄生电容;S03:比例获取模块根据所述模拟电路的仿真精度要求分别获取各个子模块的阈值比例;S04:阈值获取模块根据各个子模块的阈值比例分别计算对应子模块的优化阈值;S05:优化模块根据上述获取的各个电阻阈值和电容阈值对所述模拟电路进行RC‑Reduction,并输出优化之后的模拟电路。本发明提供的一种模拟电路的RC‑Reduction方法,保证模拟电路的仿真精度,并提升模拟电路的仿真速度。

著录项

  • 公开/公告号CN110968977B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023.06.02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海集成电路研发中心有限公司;

    申请/专利号CN201911127686.X

  • 申请日2019.11.18

  • 分类号G06F30/373(2020.01);G06F30/367(2020.01);G06F30/394(2020.01);

  • 代理机构上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275;上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275;

  • 代理人吴世华;马盼

  • 地址 201210 上海市浦东新区张江高斯路497号

  • 入库时间 2023-06-26 18:42:14

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