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NANOSCALE SURFACE WITH NANOSCALE FEATURES FORMED USING DIFFUSION AT A LINER-SEMICONDUCTOR INTERFACE

机译:在线性-半导体界面上使用扩散形成的具有纳米特性的纳米尺度表面

摘要

A method of forming a semiconductor structure includes patterning one or more fin structures disposed over a top surface of a substrate, a given one of the fin structures comprising a first semiconductor layer comprising a first material disposed over the top surface of the substrate and a second semiconductor layer comprising a second material disposed over a top surface of the first semiconductor layer. The method further includes forming a liner over the one or more fin structures, and performing an anneal process to form one or more nanoscale features in a top surface of the second semiconductor layer. The second material exhibits enhanced diffusion, relative to the first material, at an interface of the liner and sidewalls of the given fin structure.
机译:一种形成半导体结构的方法,包括对设置在衬底的顶表面上的一个或多个鳍结构进行构图,给定的鳍结构中的一个包括第一半导体层,该第一半导体层包括设置在衬底的顶表面上的第一材料,第二衬底包括第二材料。半导体层包括设置在第一半导体层的顶表面上方的第二材料。该方法还包括在一个或多个鳍结构上形成衬垫,以及执行退火工艺以在第二半导体层的顶表面中形成一个或多个纳米级特征。相对于第一材料,第二材料在衬里和给定鳍结构的侧壁的界面处表现出增强的扩散。

著录项

  • 公开/公告号US2019178798A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-06-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION;

    申请/专利号US201715840393

  • 发明设计人 JUNTAO LI;KANGGUO CHENG;QING CAO;

    申请日2017-12-13

  • 分类号G01N21/552;G01N21/65;C23C14/04;C23C14/54;B82Y15;G02B5;G01J3/44;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:11:51

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