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EEG brain wave measuring device, electroencephalogram measuring method and electroencephalogram measuring system

机译:脑电波测量装置,脑电图测量方法和脑电图测量系统

摘要

The object is to acquire electroencephalogram of high resolution with fewer number of electrodes than usual. An electroencephalogram measurement apparatus comprising: a plurality of electrodes 110 attached on the scalp of a subject for acquisition of electroencephalogram signals of the subject; and an electroencephalogram generation unit 150 for generating an electroencephalograms at locations of the scalp where the electrodes are attached and electroencephalograms at locations of the scalp where the electrodes are not attached.
机译:目的是用比通常更少的电极数来获得高分辨率的脑波图。脑波测量装置,包括:多个电极110,其安装在被检者的头皮上,用于获取被检者的脑波信号。脑电图生成单元150,用于在附着有电极的头皮的位置生成脑电图,并且在没有附着电极的头皮的位置生成脑电图。

著录项

  • 公开/公告号JP6344871B2

    专利类型

  • 公开/公告日2018-06-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社心電技術研究所;

    申请/专利号JP20160554997

  • 发明设计人 魏 大名;

    申请日2014-10-22

  • 分类号A61B5/0476;A61B5/0408;A61B5/0492;A61B5/0478;A61B5/04;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:09:06

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