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Dynamic characteristic test apparatus and dynamic characteristic test method

机译:动态特性测试装置和动态特性测试方法

摘要

A dynamic characteristics test device comprises a power source, a reactor, a selection circuit including a first switch unit and a second switch unit connected electrically in series, and an overcurrent preventing circuit configured to consume an energy stored in the reactor. A first connection part electrically connecting the first semiconductor and the second semiconductor, and a second connection part electrically connecting the first switch unit and the second switch unit are electrically connected via the reactor. The overcurrent preventing circuit includes a third switch unit and a first diode connected electrically in series, and a fourth switch unit and a second diode connected electrically in series. A forward direction of the first diode is a direction from the first connection part toward the second connection part, and a forward direction of the second diode is a direction from the second connection part toward the first connection part.
机译:动态特性测试装置包括电源,电抗器,包括串联电连接的第一开关单元和第二开关单元的选择电路,以及构造成消耗存储在电抗器中的能量的防止过电流的电路。电连接第一半导体和第二半导体的第一连接部分以及电连接第一开关单元和第二开关单元的第二连接部分经由电抗器电连接。该过电流防止电路包括串联电连接的第三开关单元和第一二极管,以及串联电连接的第四开关单元和第二二极管。第一二极管的正向是从第一连接部朝向第二连接部的方向,第二二极管的正向是从第二连接部朝向第一连接部的方向。

著录项

  • 公开/公告号JP6398873B2

    专利类型

  • 公开/公告日2018-10-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 新東工業株式会社;

    申请/专利号JP20150108362

  • 发明设计人 坂本 陽一;瀧田 伸幸;

    申请日2015-05-28

  • 分类号G01R31/28;G01R31/26;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:09:32

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