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Lee metric error correcting code

机译:Lee度量纠错码

摘要

A memory device may include memory components for storing data. The memory device may also include a controller that determines whether one or more errors exist in a data packet stored in the memory components. The controller may read a code word associated with the data packet, such that the code word may be used to indicate whether the errors exist in the data packet. The controller may then determine a syndrome polynomial based on the code word and determine an inverse of the syndrome polynomial when the syndrome polynomial is not zero. The controller may then determine a first error locator polynomial and a second error locator polynomial based on the inverse of the syndrome polynomial. The first error locator polynomial and the second error locator polynomial may be used to identify one or more locations of one or more errors in the code word.
机译:存储设备可以包括用于存储数据的存储组件。该存储设备还可包括控制器,该控制器确定在存储在存储组件中的数据分组中是否存在一个或多个错误。控制器可以读取与数据分组相关联的代码字,使得该代码字可以用于指示错误是否存在于数据分组中。然后,控制器可以基于代码字确定校正子多项式,并且在校正子多项式不为零时确定校正子多项式的逆。控制器然后可以基于校正子多项式的逆来确定第一误差定位器多项式和第二误差定位器多项式。第一错误定位符多项式和第二错误定位符多项式可以用于识别码字中一个或多个错误的一个或多个位置。

著录项

  • 公开/公告号US9524207B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-12-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号US201414475198

  • 发明设计人 CHANDRA C. VARANASI;

    申请日2014-09-02

  • 分类号H03M13/00;G06F11/10;H03M13/15;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:43:17

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