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Textured pattern sensing using partial-coherence speckle interferometry

机译:使用部分相干斑点干涉法的纹理图案感测

摘要

A system for imaging a textured surface includes a light source that is configured to project an electromagnetic radiation beam onto the textured surface, wherein the projected beam generates first radiation reflected from a first portion of the textured surface to form a speckle pattern, and second radiation reflected from a second portion of the textured surface which is substantially uniform in intensity. The reflected first and second reflected radiation is received by an optical detector, and may be processed to generate an image of the textured surface from the first and second reflected radiation. Methods for textured surface sensing are also disclosed.
机译:用于使纹理化的表面成像的系统包括光源,该光源被配置为将电磁辐射束投射到纹理化的表面上,其中投射的光束产生从纹理化的表面的第一部分反射的第一辐射,以形成斑点图案,以及第二辐射从纹理表面的第二部分反射,该第二部分的强度基本均匀。反射的第一和第二反射辐射被光学检测器接收,并且可以被处理以从第一和第二反射辐射产生纹理化表面的图像。还公开了用于纹理化表面感测的方法。

著录项

  • 公开/公告号IL210957A

    专利类型

  • 公开/公告日2015-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RAYTHEON COMPANY;

    申请/专利号IL20110210957

  • 发明设计人

    申请日2011-01-30

  • 分类号G01Bnull/null;G06Knull/null;

  • 国家 IL

  • 入库时间 2022-08-21 15:15:19

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