机译:位移传感器,光谱特征测量设备,颜色测量设备,平面测量对象质量监控器,位移测量方法,光谱特征测量方法和颜色测量方法(使用光谱仪)
公开/公告号JP2014081199A
专利类型
公开/公告日2014-05-08
原文格式PDF
申请/专利权人 YOKOGAWA ELECTRIC CORP;
申请/专利号JP20120227038
申请日2012-10-12
分类号G01B11;G01J3/36;G01J3/50;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:15:09