机译:干扰测量区域信息提供方法,其设备,使用该方法的干扰测量方法以及能够配置在传输点测量干扰的干扰测量模式的设备
公开/公告号KR20130078597A
专利类型
公开/公告日2013-07-10
原文格式PDF
申请/专利权人 PANTECH CO. LTD.;
申请/专利号KR20110147619
发明设计人 YOON SUNG JUN;
申请日2011-12-30
分类号H04B7/04;H04J11/00;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 16:26:43