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Illumination subsystem of the instrumentation system, manner in order to illuminate the test piece because of the instrumentation system, and measurement measurement

机译：仪器系统的照明子系统，基于仪器系统的照明试件的方式以及测量

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Illumination subsystem of the instrumentation system, manner in order to illuminate the test piece because of the instrumentation system, and measurement measurement is offered. Choice figure Drawing 1

机译：仪表系统的照明子系统，由于仪表系统而用于照亮试件的方式，以及测量测量。<选择图>图1

著录项

公开/公告号JP2012504246A

专利类型
公开/公告日2012-02-16

原文格式PDF
申请/专利权人ケーエルエー－テンカー・コーポレーション;
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申请/专利号JP20110529361
发明设计人チュアン・ユン－ホ・アレックス;レビンスキ・ウラディーミル;リュー・シュエフェン;
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申请日2009-09-29
分类号G01B11/02;G01B11/06;G02B27/48;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 17:38:50

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