机译:用于电容式测试材料中参数的电容式检测的设备,在测试材料的两侧排列有两个平行的表面,其中在测试材料的一侧具有测量间隙的多个表面部分
公开/公告号CH700424B1
专利类型
公开/公告日2010-08-31
原文格式PDF
申请/专利权人 USTER TECHNOLOGIES AG;
申请/专利号CH20080000115
发明设计人 RETO GEHRIG;ROLF JOSS;
申请日2008-01-28
分类号G01N27/22;G01N33/36;
国家 CH
入库时间 2022-08-21 18:29:13