机译:用于检测制造中的条带错位的装置一种能够通过检测通过气动检测装置的气动流动路径内部的压力变化来检测条带错位的半导体封装的装置
公开/公告号KR20090123159A
专利类型
公开/公告日2009-12-02
原文格式PDF
申请/专利权人 HANMISEMICONDUCTOR CO. LTD.;
申请/专利号KR20080049099
发明设计人 YOUN WOONG HWAN;
申请日2008-05-27
分类号H01L23/544;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 18:33:57