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QUALITY INSPECTION METHOD, QUALITY INSPECTION DEVICE AND QUALITY INSPECTION SYSTEM

机译:质量检验方法,质量检验装置和质量检验系统

摘要

Embodiment of the invention discloses the methods of quality examination (QC) a kind of, comprising: determines QC inspection objects and its QC content (201); Hunting system, the position of the data QC needed for QC; According to determining QC QC targets and its content, and corresponding QC is obtained from system (202); With calculating QC results according to the QC data (203) of acquisition. In QC methods, can execute unified classification QC service representatives on not homologous ray and be stored in QC results can facilitate inquiry, statistics, the result for analyzing QC equably in same database. The embodiment of the present invention also QC systems include database and QC equipment. The QC equipment includes user input unit and main control unit.
机译:本发明实施例公开了一种质量检查方法(QC),包括:确定QC检查对象及其QC含量(201);狩猎系统中,QC所需数据的位置;根据确定的质量控制的质量控制目标及其内容,从系统中获取相应的质量控制(202);根据获取的QC数据(203)计算QC结果。在质量控制方法中,可以在非同源射线上执行统一分类的质量控制服务代表,并将其存储在质量控制结果中,可以方便地在同一数据库中进行查询,统计,平等地分析质量控制的结果。在本发明的实施例中,QC系统还包括数据库和QC设备。质量控制设备包括用户输入单元和主控制单元。

著录项

  • 公开/公告号EP2116963A4

    专利类型

  • 公开/公告日2010-04-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HUAWEI TECHNOLOGIES CO. LTD.;

    申请/专利号EP20070817191

  • 发明设计人 WANG WEI;

    申请日2007-10-31

  • 分类号G06Q10/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 18:37:24

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