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METHOD AND APPARATUS FOR ACCURATE CALIBRATION OF A REFLECTOMETER BY USING A RELATIVE REFLECTANCE MEASUREMENT

机译:通过使用相对反射测量来准确校准反射计的方法和装置

摘要

A reflectometer calibration technique is provided that may include the use of two calibration samples in the calibration process. Further, the technique allows for calibration even in the presence of variations between the actual and assumed properties of at least one or more of the calibration samples. In addition, the technique utilizes a ratio of the measurements from the first and second calibration samples to determine the actual properties of at least one of the calibration samples. The ratio may be a ratio of the intensity reflected from the first and second calibration samples. The samples may exhibit relatively different reflective properties at the desired wavelengths. In such a technique the reflectance data of each sample may then be considered relatively decoupled from the other and actual properties of one or more of the calibration samples may be calculated. The determined actual properties may then be utilized to assist calibration of the reflectometer.
机译:提供了一种反射计校准技术,该技术可以包括在校准过程中使用两个校准样本。此外,该技术甚至在至少一个或多个校准样本的实际和假定属性之间存在变化的情况下也允许进行校准。另外,该技术利用来自第一和第二校准样品的测量值的比率来确定至少一个校准样品的实际特性。该比率可以是从第一和第二校准样本反射的强度的比率。样品在期望的波长下可以表现出相对不同的反射特性。在这样的技术中,然后可以认为每个样品的反射率数据与另一个相对解耦,并且可以计算一个或多个校准样品的实际特性。然后,可以利用所确定的实际特性来辅助反射计的校准。

著录项

  • 公开/公告号KR20090008454A

    专利类型

  • 公开/公告日2009-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 METROSOL INC.;

    申请/专利号KR20087029592

  • 发明设计人 HARRISON DALE A.;WALSH PHILLIP;

    申请日2008-12-03

  • 分类号G01N21/00;G01D18/00;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 19:14:05

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