解决方案:晶体分析方法使用原子模型,基于严格计算原子的相对位置作为变形指标的表达式,找到并指示所有原子在变形前后的位置变化,并通过指定一个变形区域位置改变,将变形区域和非变形区域之间的边界识别为诸如晶格缺陷的过渡,并基于变形区域中每个原子的相互移动来确定变形模式。
版权:(C)2004,日本特许厅
公开/公告号JP4243678B2
专利类型
公开/公告日2009-03-25
原文格式PDF
申请/专利权人 独立行政法人産業技術総合研究所;
申请/专利号JP20020163200
申请日2002-06-04
分类号G01N33/20;G06F17/10;G06F17/16;G09B23/26;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:38:32