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Circuit simulation method, circuit simulation program, and circuit simulation apparatus for delay characteristic evaluation

机译:用于延迟特性评估的电路仿真方法,电路仿真程序和电路仿真装置

摘要

In delay characteristic evaluation of a logical circuit, there was the problem of underestimation of the output load compared with the actual output load. There is provided a simulation device including a simplification section that, simplifies the load circuit using a transistor with which a virtual control voltage source is connected, by specifying a transistor driven through the output terminal of the target circuit and connecting to the drain of this transistor the virtual control voltage source whereby the output potential of this transistor is varied in accordance with the gate potential of this transistor.
机译:在逻辑电路的延迟特性评估中,存在与实际输出负载相比低估输出负载的问题。提供了一种包括简化部分的仿真设备,该仿真部分通过指定通过目标电路的输出端子驱动并连接到该晶体管的漏极的晶体管来简化使用连接有虚拟控制电压源的晶体管的负载电路。虚拟控制电压源,由此该晶体管的输出电势根据该晶体管的栅极电势而变化。

著录项

  • 公开/公告号JP4313288B2

    专利类型

  • 公开/公告日2009-08-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20040336330

  • 发明设计人 阿部 泰典;

    申请日2004-11-19

  • 分类号G06F17/50;H01L21/82;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:42:16

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