机译:样品中质子溶剂的局部测量方法,样品中质子溶剂的局部测量装置,磁谐振法,测量方法,样品中质子溶剂的局部测量装置,测量方法
公开/公告号EP1879022A1
专利类型
公开/公告日2008-01-16
原文格式PDF
申请/专利权人 KEIO UNIVERSITY;
申请/专利号EP20060731614
申请日2006-04-11
分类号G01N24/08;G01R33/32;G01R33/341;G01R33/38;
国家 EP
入库时间 2022-08-21 19:57:08