要解决的问题:为了快速,有效和精确地检测在平板玻璃内部或其表面上产生的各种缺陷。
解决方案:该平板玻璃缺陷检测器10设置有光源20和光接收装置30,该光接收装置30布置在相对位置,平板玻璃G位于它们之间。平板玻璃G具有沿其厚度方向彼此相对的半透明面Ga,Gb,并且布置在光源20和光接收装置30之间,以使半透明面Ga,Gb相对于光轴倾斜预定角度。玻璃板缺陷检测器10的光学系统的Lx。光接收装置30和平板玻璃G以这样的位置关系布置:光接收装置30的透镜系统31的焦距F小于距离Z。从光接收装置30的光接收元件到平板玻璃G,在光轴Lx上。
版权:(C)2008,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2008170429A
专利类型
公开/公告日2008-07-24
原文格式PDF
申请/专利权人 NIPPON ELECTRIC GLASS CO LTD;
申请/专利号JP20070322074
申请日2007-12-13
分类号G01N21/896;G01N21/958;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:24:05