首页> 外国专利> Embodiments of trenches or wells having various destinations in a semiconductor substrate

Embodiments of trenches or wells having various destinations in a semiconductor substrate

机译:在半导体衬底中具有各种目的地的沟槽或阱的实施例

摘要

The method involves simultaneously etching trenches (4, 6) and wells (5). A silicon nitride layer (8) is deposited over an entire structure of the trenches and wells to cover walls and bottom of the trenches and wells. A thick silicon oxide layer (9) is deposited by non-conformal deposition over the entire structure for closing openings of the trenches and wells. The layer (9) is selectively opened according to subsequent processings.
机译:该方法包括同时蚀刻沟槽(4、6)和阱(5)。氮化硅层(8)沉积在沟槽和阱的整个结构上以覆盖沟槽和阱的壁和底部。通过非共形沉积在整个结构上沉积厚的氧化硅层(9),以封闭沟槽和阱的开口。根据随后的处理选择性地打开层(9)。

著录项

  • 公开/公告号FR2880191B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 STMICROELECTRONICS SA SOCIETE ANONYME;

    申请/专利号FR20040053170

  • 发明设计人 ANCEAU CHRISTINE;

    申请日2004-12-23

  • 分类号H01L21/71;H01L21/02;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 20:27:07

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号