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DIAGNOSTIC APPARATUS FOR FOCUSING ELECTRON BEAM IN MICROWAVE AMPLIFIER

机译:在微波放大器中聚焦电子束的诊断装置

摘要

A diagnostic apparatus for focusing an electron beam in a microwave amplifier is provided to minimize an interception current value by adjusting a magnetic field value of a magnet for focusing the electron beam. A diagnostic apparatus includes a cathode for generating an electron beam, an RF input unit for modulating the electron beam, an RF output unit for outputting an amplified electromagnetic wave by converting kinetic energy of the modulated electron beam, a magnet for focusing the electron beam, and a collector for collecting the electron beam. The diagnostic apparatus further includes a film(20) formed with an insulating and flexible material, a plurality of electrode terminals(21-30) disposed on the film, and a plurality of current meters connected with the electrode terminals in order to measure the amount of current.
机译:提供一种用于在微波放大器中聚焦电子束的诊断设备,以通过调节用于聚焦电子束的磁体的磁场值来最小化拦截电流值。一种诊断设备,包括:阴极,用于产生电子束; RF输入单元,用于调制电子束; RF输出单元,用于通过转换调制后的电子束的动能来输出放大的电磁波;磁体,用于使电子束聚焦;以及用于收集电子束的收集器。该诊断设备还包括由绝缘和柔性材料形成的膜(20),设置在该膜上的多个电极端子(21-30)以及与该电极端子连接的多个电流计,以测量该量当前。

著录项

  • 公开/公告号KR100751042B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20050046419

  • 申请日2005-05-31

  • 分类号H01J23/08;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 20:31:29

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