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METHOD FOR SELF-MONITORING A MICROSCOPE SYSTEM, MICROSCOPE SYSTEM, AND SOFTWARE FOR SELF-MONITORING A MICROSCOPE SYSTEM

机译:用于自动监视微系统的方法,微系统和用于自动监视微系统的软件

摘要

The invention relates to a method, a software, and a microscope system for monitoring and controlling loss of information. The observation of unavailable information and the comparison between ideal loss and real loss enables an explanation component to be produced by means of a control quantity. The microscope system informs the user in a suitable manner, e.g. by means of a display, of the defined actions to carry out in order to eliminate the defect.
机译:本发明涉及用于监视和控制信息丢失的方法,软件和显微镜系统。通过观察不可用的信息以及比较理想损耗与实际损耗,可以通过控制量来产生解释分量。显微镜系统以适当的方式通知用户,例如通过显示,执行定义的动作以消除缺陷。

著录项

  • 公开/公告号EP1488377B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-05-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH;

    申请/专利号EP20020795124

  • 发明设计人 OLSCHEWSKI FRANCK;

    申请日2002-12-09

  • 分类号G06T5/00;G02B21/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 20:49:02

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