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Test system and test structure for testing an integrated circuit and an integrated circuit having a test structure

机译：用于测试集成电路的测试系统和测试结构以及具有测试结构的集成电路

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摘要

One embodiment of the invention relates to a test structure for testing an integrated circuit with a tester unit that has one or more connecting lines to connect the integrated circuit, wherein a test signal and/or a supply voltage is applied to the integrated circuit for the purposes of testing, and an interference unit connected to at least one of the connecting lines which applies an interference signal to the connecting line to reduce the quality of the test signal and/or the quality of the supply voltage.

机译：本发明的一个实施例涉及一种用于利用测试器单元测试集成电路的测试结构，该测试器单元具有一条或多条用于连接集成电路的连接线，其中，将测试信号和/或电源电压施加到用于测试集成电路的集成电路。测试目的，以及干扰单元，其连接到至少一条连接线上，该干扰单元将干扰信号施加到该连接线上，以降低测试信号的质量和/或电源电压的质量。

著录项

公开/公告号US7193426B2

专利类型
公开/公告日2007-03-20

原文格式PDF
申请/专利权人 PETER POCHMÜLLER;
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申请/专利号US20040013873
发明设计人 PETER POCHMÜLLER;
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申请日2004-12-16
分类号G01R31/28;G01R31/02;G01R31/26;
国家 US
入库时间 2022-08-21 21:01:27

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