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Domain epitaxy for thin film growth

机译:薄膜生长的域外延

摘要

A method of forming an epitaxial film on a substrate includes growing an initial layer of a film on a substrate at a temperature Tgrowth, said initial layer having a thickness h and annealing the initial layer of the film at a temperature Tanneal, thereby relaxing the initial layer, wherein said thickness h of the initial layer of the film is greater than a critical thickness hc. The method further includes growing additional layers of the epitaxial film on the initial layer subsequent to annealing. In some embodiments, the method further includes growing a layer of the film that includes at least one amorphous island.
机译:一种在衬底上形成外延膜的方法,包括在温度T 增长下在衬底上生长膜的初始层,所述初始层的厚度为h,并在200℃退火膜的初始层。温度T 退火,从而松弛初始层,其中膜的初始层的所述厚度h大于临界厚度h c 。该方法还包括在退火之后在初始层上生长外延膜的附加层。在一些实施例中,该方法进一步包括生长包括至少一个非晶岛的薄膜层。

著录项

  • 公开/公告号US2006016388A1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-01-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JAGDISH NARAYAN;

    申请/专利号US20050038008

  • 发明设计人 JAGDISH NARAYAN;

    申请日2005-01-18

  • 分类号C30B23/00;C30B25/00;C30B28/12;C30B28/14;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:45:00

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