首页> 外国专利> METHOD FOR INSPECTING INVARIANCE, LOGICAL DEVICE, AND SYSTEM FOR INSPECTING INVARIANCE

METHOD FOR INSPECTING INVARIANCE, LOGICAL DEVICE, AND SYSTEM FOR INSPECTING INVARIANCE

机译：检验不一致性的方法，逻辑设备和检验不一致性的系统

页面导航

摘要
著录项
相似文献

摘要

PPROBLEM TO BE SOLVED: To mitigate or dissolve defects and problems regarding an invariance inspection used for circuit design. PSOLUTION: One or more first steps of FSM corresponding to one or more bisection decision diagram (BDD) are executed. In order to retrieve a state space to an initial state and an error state in a second direction opposite to a first space, one or more second steps of FSM is executed and in order to retrieve the state space in the first direction by one or more first steps, one or more third steps of FSM are executed. PCOPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

机译：

要解决的问题：缓解或解决有关电路设计不变性检查的缺陷和问题。

解决方案：执行与一个或多个二等分决策图（BDD）相对应的FSM的一个或多个第一步。为了在与第一空间相反的第二方向上将状态空间检索到初始状态和错误状态，执行FSM的一个或多个第二步骤，并在第一方向上将状态空间检索一个或多个。第一步，执行FSM的一个或多个第三步。

版权：（C）2006，JPO＆NCIPI 展开▼

著录项

公开/公告号JP2006012134A

专利类型
公开/公告日2006-01-12

原文格式PDF
申请/专利权人 FUJITSU LTD;
展开▼

申请/专利号JP20050148756
发明设计人 STANGIER CHRISTIAN;SIDLE THOMAS W;TAKAYAMA KOICHIRO;
展开▼

申请日2005-05-20
分类号G06F17/50;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:56:14

相似文献

专利
外文文献
中文文献