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examination of a halbleitereinrichtung and processes for the manufacture of a halbleitereinrichtung including a review process

机译:卤化物的检验和制造卤化物的方法,包括复查方法

摘要

A process of converting simulation data to test data used for testing an integrated circuit includes the steps of detecting a transition of state of the simulation data, extracting an event (S11) from the simulation data in response to the transition, and creating the test data in response to the event. IMAGE
机译:将仿真数据转换为用于测试集成电路的测试数据的过程包括以下步骤:检测仿真数据的状态转换;响应于该转换从仿真数据中提取事件(S11);以及创建测试数据。响应事件。 <图像>

著录项

  • 公开/公告号DE69925953D1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LTD. KAWASAKI;

    申请/专利号DE1999625953T

  • 发明设计人 UEDA TAKEFUMI;

    申请日1999-04-23

  • 分类号G01R31/3181;G06F11/22;G01R31/3183;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 21:58:42

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