机译:基于在检测反射/散射的PLIB期间应用空间强度调制技术来降低平面激光照明光束照射目标后的空间相干性,从而减少斑点噪声图案的通用方法及其装置的特定形式
公开/公告号US2003042309A1
专利类型
公开/公告日2003-03-06
原文格式PDF
申请/专利权人 METROLOGIC INSTRUMENTS INC.;
申请/专利号US20020136028
申请日2002-04-30
分类号G06K7/10;G06K7/14;
国家 US
入库时间 2022-08-22 00:08:30