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Photomask supply system with photomask production period shortened

机译:缩短了光掩模生产周期的光掩模供应系统

摘要

Specification data including a method of measuring the dimension and mask design data for a photomask pattern is transmitted from an order-sender computer via a communication line. An element dimension calculating unit generates a measurement recipe according to the dimension-measurement method and the mask design data to transmit the measurement recipe to an element dimension measuring unit. The element dimension calculating unit calculates production error data of the pattern according to measurement data and the mask design data to transmit the error data to the order-sender via the communication line.
机译:从订单发送者计算机经由通信线路发送包括用于测量光掩模图案的尺寸的方法和掩模设计数据的规格数据。元件尺寸计算单元根据尺寸测量方法和掩模设计数据生成测量配方,以将测量配方发送到元件尺寸测量单元。元件尺寸计算单元根据测量数据和掩模设计数据计算图案的生产误差数据,以通过通信线路将误差数据发送给定单发送者。

著录项

  • 公开/公告号US2003187750A1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-10-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MITSUBISHI DENKI KABUSHIKI KAISHA;

    申请/专利号US20020259465

  • 发明设计人 MASAYOSHI MORI;

    申请日2002-09-30

  • 分类号G06F17/60;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:08:48

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