首页> 外国专利> Method for analysis and display of transient process events using Kohonen map

Method for analysis and display of transient process events using Kohonen map

机译:使用Kohonen图分析和显示瞬态过程事件的方法

摘要

A method for analyzing and displaying process states of a technical plant includes enabling simultaneous, coherent assessment and display of relevant process variables of the plant by evaluating relevant process variables with regard to one another through the use of a neural analysis on the basis of self-organizing maps, by making a topology-producing projection of data of the relevant process variables onto a neural map. The current process courses are plotted as trajectories on the map. Evaluation in the sense of a diagnosis can be carried out either visually or in an automated manner.
机译:一种用于分析和显示技术工厂的过程状态的方法,该方法包括通过基于自我评估的神经分析,彼此评估相关过程变量,从而能够同时进行一致的评估和相关工厂过程变量的显示。通过对相关过程变量的数据进行拓扑生成投影到神经图上来组织图。当前的过程路线在地图上绘制为轨迹。诊断意义上的评估可以通过视觉或自动方式进行。

著录项

  • 公开/公告号US6321216B1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ABB PATENT GMBH;

    申请/专利号US19970982613

  • 发明设计人 RALF OTTE;GERD RAPPENECKER;KARL GOSER;

    申请日1997-12-02

  • 分类号G06F151/80;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:47:46

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号