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Monte Carlo scatter correction method for computed tomography of general object geometries

机译:蒙特卡罗散射校正方法,用于一般对象几何体的计算机断层摄影

摘要

A method of correcting aberrations caused by target x-ray scatter in three-dimensional images generated by a volumetric computed tomographic system is disclosed. The method uses a Monte Carlo simulation to determine the distribution of scattered radiation reaching the detector plane. The geometry for the scatter calculation is determined using the uncorrected three-dimensional tomographic image. The calculated scatter is used to correct the primary projection data which is then processed routinely to provide the corrected image.
机译:公开了一种校正由体积计算机断层摄影系统生成的三维图像中的目标x射线散射引起的像差的方法。该方法使用蒙特卡洛模拟来确定到达探测器平面的散射辐射的分布。使用未校正的三维断层图像确定散射计算的几何形状。计算出的散射用于校正主投影数据,然后对这些数据进行常规处理以提供校正后的图像。

著录项

  • 公开/公告号US6163589A

    专利类型

  • 公开/公告日2000-12-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GENERAL ELECTRIC COMPANY;

    申请/专利号US19980097047

  • 发明设计人 MICHAEL H. VARTANIAN;

    申请日1998-06-13

  • 分类号G01N23/083;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:06:07

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