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Surface structure recognition involves irradiating infrared pattern to test item, and analyzing reflection of infrared pattern received from test item by infrared camera

机译：表面结构识别包括对测试对象照射红外图案，并通过红外热像仪分析从测试对象接收到的红外图案的反射

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An infrared pattern (11) is irradiated to a planar test item (5). The reflection of the infrared pattern is obtained by an infrared camera (7) and then analyzed. An independent claim is also included for a surface structure recognition device.

机译：将红外线图案（11）照射到平面测试物（5）上。红外图案的反射通过红外摄像机（7）获得，然后进行分析。表面结构识别装置也包括独立权利要求。

著录项

公开/公告号DE10006663A1

专利类型
公开/公告日2001-08-23

原文格式PDF
申请/专利权人 METRONOM GESELLSCHAFT FUER INDUSTRIEVERMESSUNG MBH;
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申请/专利号DE2000106663
发明设计人 BLONDEAU JEAN;
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申请日2000-02-15
分类号G01N21/956;G01N21/35;G01M11/00;G01N13/00;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 01:09:57

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