机译:评估液晶调制元件的光学调制特性的方法,使用它制造的液晶,评估液晶调制元件的光学调制特性的系统以及用于对数据进行存储的电容值的估计值
公开/公告号JP2001141605A
专利类型
公开/公告日2001-05-25
原文格式PDF
申请/专利权人 SHARP CORP;
申请/专利号JP19990326012
发明设计人 OKAMOTO MASAYUKI;
申请日1999-11-16
分类号G01M11/00;G02F1/13;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 01:29:38