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Probe for measuring epidural pressure and elasticity of brain parenchyma

机译:测量脑实质硬膜外压力和弹性的探针

摘要

A probe for measuring epidural pressure and the elasticity of brain parenchyma includes first and second chambers both formed of a thin film with a bag-shape so that they can contract/expand in response to introduction of first and second pressure transmission mediums, respectively, wherein the first and second chambers are independent of each other and provided in a stack. Thus a probe capable of accurately measuring epidural pressure and the elasticity of brain parenchyma can be provided.
机译:用于测量硬膜外压力和脑实质的弹性的探针包括第一腔室和第二腔室,第一腔室和第二腔室均由具有袋状薄膜的薄膜形成,从而它们可以分别响应于第一压力传输介质和第二压力传输介质的引入而收缩/膨胀。第一腔室和第二腔室彼此独立并且设置成堆叠。因此,可以提供能够准确地测量硬膜外压力和脑实质的弹性的探针。

著录项

  • 公开/公告号US5997484A

    专利类型

  • 公开/公告日1999-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SUGAN CO. LTD.;

    申请/专利号US19980006189

  • 发明设计人 TOMIO SUGAHARA;

    申请日1998-01-13

  • 分类号A61B5/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:38:49

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