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Device for measuring DC component of a periodic measurement signal has calibrating unit for determining DC offset with calibrating source to produce a periodic symmetrical calibrated signal

机译：用于测量周期性测量信号的直流分量的装置具有校准单元，该校准单元利用校准源确定直流偏移，以产生周期性对称的校准信号

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Device measuring DC component of a periodic measured signal (S) over a period (Ts) comprises AD converter (6) for scanning and digitalizing the measured signal (S); a calculator (8) for determining a DC component (11) by summation of starting values of the AD converter; and a calibrating unit (20) for determining a DC offset having a calibrating source (21) to produce a periodic symmetrical calibrated signal over a period (Tc), a DC component of zero and a duration of at least L (where, L = m.Ts = k.Tc; k is a whole number; m 0; and k 0).

机译：在一个周期（Ts）内测量周期性测量信号（S）的DC分量的设备包括AD转换器（6），用于对测量信号（S）进行扫描和数字化;计算器（8），用于通过对AD转换器的起始值求和来确定DC分量（11）;用于确定DC偏移的校准单元（20），其具有校准源（21），以在周期（Tc），DC分量为零且持续时间至少为L的情况下产生周期性对称的校准信号。 m.Ts = k.Tc; k是整数; m > 0;并且k > 0）。

著录项

公开/公告号DE19905271A1

专利类型
公开/公告日2000-08-10

原文格式PDF
申请/专利权人 ABB RESEARCH LTD. ZUERICH;
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申请/专利号DE1999105271
发明设计人 JOHANSEN ERNST;
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申请日1999-02-09
分类号G01R19/25;H03M1/10;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 01:42:20

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