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METHOD OF AND SYSTEM FOR MEASURING ORTHOGONAL COMPONENTS AND ABSOLUTE VALUE OF A VECTOR OF SHORT-CIRCUIT LOOP IMPEDANCE WITH ELIMINATION OF THE INFLUENCE OF SELECTED HARMONICS ON RESULTS OF SUCH MEASUREMENTS

机译:测量短路回路阻抗矢量的正交分量和绝对值的方法和系统,从而消除了所选谐波对此类测量结果的影响

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PL169205B1

    专利类型

  • 公开/公告日1996-06-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POLITECHNIKA GDANSKA;

    申请/专利号PL19920297253

  • 发明设计人 ROSKOSZ RYSZARD;

    申请日1992-12-29

  • 分类号G01R27/16;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-22 03:52:58

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