首页> 外国专利> METHOD OF X-RAY TOPOGRAPHY OF CRYSTALS

METHOD OF X-RAY TOPOGRAPHY OF CRYSTALS

机译:晶体的X射线断层扫描方法

摘要

the invention u043eu0442u043du043eu0441u0438u0442u0441u00a0 to u0440u0435u043du0442u0433u0435u043du043eu0442u043eu043fu043eu0433u0440u0430u0444u0438u0447u0435u0441u043au0438u043c u0438u0441u0441u043bu0435u0434u043eu0432u0430u043du0438u00a0u043c imperfections of crystals and can be used u0434u043bu00a0 studies structural distortion is almost perfect crystals. purpose u0438u0437u043eu0431u0440u0435u0442u0435u043du0438u00a0 u00a0u0432u043bu00a0u0435u0442u0441u00a0 increased coverage by combining the u043du0430u0431u043bu044eu0434u0435u043du0438u00a0 effects u043cu0430u00a0u0442u043du0438u043au043eu0432u043eu0433u043e u0440u0435u0448u0435u043du0438u00a0 and abnormal u043fu0440u043eu0445u043eu0436u0434u0435u043du0438u00a0.it has studied the crystal u0434u043eu0441u0442u0438u0433u0430u0435u0442u0441u00a0 sphenoid shape in which the direction of u0443u0442u043eu043du0447u0435u043du0438u00a0 clean u0432u044bu0431u0438u0440u0430u0435u0442u0441u00a0 in plane diffraction u043fu0435u0440u043fu0435u043du0434u0438u043au0443u043bu00a0u0440u043du043e in u0435u043au0442u043eu0440u0443 reverse reflecting crystal lattice planes.simultaneously, can be obtained u0442u043eu043fu043eu0433u0440u0430u043cu043cu044b of rays, u0434u0438u0444u0440u0430u0433u0438u0440u043eu0432u0430u0432u0448u0438u0445 in the side and the bottom surface of the crystal, with the participation of u0442u043eu0440u0446u043eu0432u0443u044e respectively u043cu0430u00a0u0442u043d u0438u043au043eu0432u043eu0433u043e and u0431u043eu0440u043cu0430u043du043eu0432u0441u043au043eu0433u043e effects. 10).
机译:本发明 u043e u0442 u043d u043e u0441 u0438 u0442 u0441 u00a0至 u0440 u0435 u043d u0442 u0433 u0435 u043d u043e u0442 u0442 u043e u043f u043e u0433 u0440 u0430 u0444 u0438 u0447 u0435 u0441 u043a u0438 u043c u0438 u0441 u0441 u043b u0435 u0434 u0434 u043e u0432 u0430 u043d u043d u0438 u00a0 u043c可以使用晶体缺陷研究结构变形几乎是完美的晶体。用途 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0435 u0442 u0435 u043d u043d u043b u00a0 u0435 u0442 u0432 u043b u00a0 u0435 u0442 u0441 u00a0通过合并 u043d u0430 u043b u044e u0434 u0435 u043d u0438 u00a0效果 u043c u0430 u00a0 u0442 u043d u0438 u043a u043e u0432 u043e u0433 u043e u0440 u0435 u0448 u0435 u0438 u00a0和异常 u043f u0440 u043e u0445 u043e u0436 u0434 u0435 u043d u0438 u00a0。它研究了晶体 u0434 u043e u0441 u0442 u0442 u0438 u0433 u0430 u0435 u0442 u0441 u00a0蝶形形状,其中 u0443 u0442 u043e u043d u043d u0447 u0435 u043d u0438 u00a0干净的 u0432 u044b u0431 u0438 u0440 u0430 u0435 u0442 u0441平面衍射中的u00a0 u043f u0435 u0440 u043f u0435 u043d u0434 u0438 u043a u0443 u043b u00a0 u0440 u043d u043e u0435 u043a u043a u0442 u043e u0440 u0443反反射晶体同时获得 u0442 u043e u043f u043e u0433 u0440 u0430 u043c u043c u044b射线, u0434 u0438 u0444 u04 40 u0430 u0433 u0438 u0440 u043e u0432 u0430 u0432 u0448 u0438 u0445在晶体的侧面和底面,其中 u0442 u043e u0440 u0446 u043e u0432 u0443 u044e分别 u043c u0430 u00a0 u0442 u043d u0438 u043a u043e u0432 u043e u0433 u043e和 u0431 u043e u0440 u043c u04c u0430 u043d u043e u0432 u0441 u043e u0433 u043e效果。 10)。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号