首页> 外国专利> METHOD OF DETERMINING PARAMETERS OF RESIDUAL STRESSES IN ARTICLES SUBJECTED TO SURFACE COLD WORKING

METHOD OF DETERMINING PARAMETERS OF RESIDUAL STRESSES IN ARTICLES SUBJECTED TO SURFACE COLD WORKING

机译：确定表面冷加工的制品中残余应力参数的方法

页面导航

摘要
著录项
相似文献

摘要

the invention u043eu0442u043du043eu0441u0438u0442u0441u00a0 to the acoustic methods of non-destructive u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0. the purpose of u0438u0437u043eu0431u0440u0435u0442u0435u043du0438u00a0 - improved accuracy u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 parameters of residual u043du0430u043fu0440u00a0u0436u0435u043du0438u0439 in u0438u0437u0434u0435u043bu0438u00a0u0445 subjected to u0443u043fu0440u043eu0447u043du0435u043du0438u044e surface u043du0430u043au043bu0435u043fu043eu043c, u0431u043bu0430u0433u043eu0434u0430u0440u00a0 u043fu0440u043eu0437u0432u0443u0447u0438 of u0438u0437u0434u0435u043bu0438u00a0 surface ultrasound (km) u043au043eu043bu0435u0431u0430u043du0438u00a0u043cu0438 different frequencies and measuring the time u0440u0430u0441u043fu0440u043eu0441u0442u0440u0430u043du0435u043du0438u00a0.as a result u043eu0431u0435u0441u043fu0435u0447u0438u0432u0430u0435u0442u0441u00a0 layer growing information. in u0438u0437u0434u0435u043bu0438u00a0 radiate surface bonds u043au043eu043bu0435u0431u0430u043du0438u00a0 and take the past as a base u043au043eu043bu0435u0431u0430u043du0438u00a0 first frequency. u0438u0437u043cu0435u0440u00a0u044eu0442 their u0432u0440u0435u043cu00a0 u0440u0430u0441u043fu0440u043eu0441u0442u0440u0430u043du0435u043du0438u00a0 and u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 difference this time with the time u043fu0440u043eu0445u043eu0436u0434u0435u043du0438u00a0 similar ties of the u0438u0437u0434u0435u043bu0438u00a0 without u043du0430u043fu0440u00a0u0436u0435u043du0438u0439. u043fu043eu0432u0442u043eu0440u00a0u044eu0442 data operation at other frequencies in the u043fu043eu0440u00a0u0434u043au0435 their u0443u0431u044bu0432u0430u043du0438u00a0.according to the results of measurements at different frequencies on the basis of u043fu0440u043eu043du0438u043au043du043eu0432u0435u043du0438u00a0 surface bond volatility at these frequencies in the material u0438u0437u0434u0435u043bu0438u00a0 u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 depth u0437u0430u043bu0435u0433u0430u043du0438u00a0 and amount of residual u043du0430u043fu0440u00a0u0436u0435u043du0438u0439. 2).

机译：本发明针对非破坏性的声学方法的发明。发明的目的是针对非破坏性的声学方法。 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0435 u0442 u0435 u043d u0438 u00a0的目的-提高了精度 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u043b u0435 u043d u0438 u00a0 u0438 u0437 u0434 u0435 u0435 u043b u0438 u00a0 u0445中的 u043d u0430 u043f u0440 u00a0 u0436 u0435 u043d u0438 u0439中的残差参数受 u0443 u043f u0440 u04340 u0447 u043d u0435 u043d u0438 u044e表面 u043d u0430 u043a u043b u0435 u043f u043e u043c u0431 u043b u0430 u0433 u0433 u043e u0434 u0430u u0440 u043e u0437 u0432 u0443 u0447 u0438 u0438 u0437 u0434 u0435 u043b u0438 u00a0表面超声（km） u043a u043e u043b u0435 u0431 u0430 u043d u0438 u00a0 u043c u0438不同的频率并测量时间 u0440 u0430 u0441 u043f u0440 u043e u0441 u0442 u0440 u0430 u043d u0435 u043d u0438 u00a0。结果 u043e u0431 u0435 u0441 u043f u0435 u0447 u0438 u0432 u0430 u0435 u0442 u0441 u00a0层信息不断增加。在 u0438 u0437 u0434 u0435 u043b u0438 u00a0中辐射表面键 u043a u043e u043b u0435 u0431 u0430 u043d u0438 u00a0并以过去为基础 u043a u043e u043b u0435 u0431 u0430 u043d u0438 u00a0第一频率。 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u00a0 u044e u0442他们的 u0432 u0440 u0435 u043c u00a0 u0440 u0430 u0441 u043f u0440 u043e u0441 u0442 u0440 u0430 u0435 u043d u0438 u00a0和 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442这次与时间 u043f u0440 u04340 u043e u0445 u043e u0436 u0434 u0435 u043d u0438 u00a0与 u0438 u0437 u0434 u0435 u043b u0438 u00a0类似的关系，而没有 u043d u0430 u043f u0440 u00a0 u0436 u0435 u043d u043d u0438 u0439。 u043f u043e u0432 u0442 u043e u0440 u00a0 u044e u0442在 u043f u043e u0440 u00a0 u0434 u043a u0435其 u0443 u0431 u044b u0432 u0430的其他频率上的数据操作 u043d u0438 u00a0，根据 u043f u0440 u043e u043d u0438 u043a u043d u043d u043e u0432 u0435 u043d u043d u0438 u00a0在不同频率下的测量结果材料中的这些频率 u0438 u0437 u0434 u0435 u043b u0438 u00a0 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442深度 u0437 u0430 u043b u0435 u0433 u0430 u043d u0438 u00a0和剩余量 u043d u0430 u043f u0440 u00a0 u0436 u0435 u043d u0438 u0439。 2）。

著录项

公开/公告号SU1552089A1

专利类型
公开/公告日1990-03-23

原文格式PDF
申请/专利权人 SAITKULOV VLADIMIR GSU;SMIRNOV VITALIJ ASU;AFANASEV MARK SSU;ALEEV MARS KHSU;ALEEVA ROZA SSU;
展开▼

申请/专利号SU19884456170
发明设计人 ALEEVA ROZA SSU;SMIRNOV VITALIJ ASU;SAITKULOV VLADIMIR GSU;AFANASEV MARK SSU;ALEEV MARS KHSU;
展开▼

申请日1988-04-28
分类号G01N29/00;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 06:11:58

相似文献

专利
外文文献
中文文献