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CIRCUIT ARRANGEMENT FOR SIMULTANEOUS MEASURING AMPLITUDE-FREQUENCY CHARACTERISTIC AND REFLECTION DAMPING OF THE RADIOFREQUENCY CIRCUITS BY MEANS OF SPECTRUMANALYSER

机译:频谱仪同时测量射频电路的幅频特性和反射阻尼的电路布置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号HUT45627A

    专利类型

  • 公开/公告日1988-07-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HIRADASTECHNIKA SZHU;

    申请/专利号HU19860004663

  • 发明设计人 ERDEIISTVANHU;

    申请日1986-11-12

  • 分类号G01R23/16;

  • 国家 HU

  • 入库时间 2022-08-22 07:00:00

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