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机译:测量散射解决方案总衰减系数的方法和系统
公开/公告号PL136104B2
专利类型
公开/公告日1986-01-31
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号PL19840247598
发明设计人
申请日1984-05-09
分类号G01N21/47;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 07:40:39
机译: 测量散射解决方案总衰减系数的方法和系统
机译: 康普顿散射量子衰减校正方法,涉及以校正的散射系数生成公共矩阵,其中在矩阵生成期间对散射信号进行完全校正
机译: 利用衰减全反射的传感器单元和利用衰减全反射的测量方法