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机译:X射线干涉法测定单晶原子晶格畸变。
公开/公告号SU1117503A1
专利类型
公开/公告日1984-10-07
原文格式PDF
申请/专利权人 EREVANSKIJ G UNIVERSITET;
申请/专利号SU19833595515
发明设计人 ASLANYAN VARDAN GSU;BEZIRGANYAN PETROS ASU;
申请日1983-05-25
分类号G01N23/20;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 08:52:03
机译: X射线光谱测定材料有效原子序数的方法及测定有效原子序数的仪器
机译: 单晶局部和平均X射线光学特性测定方法
机译: 单晶取向X射线衍射测定法